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本发明公开了一种半导体功率器件结构及其制造方法,第一导电类型的衬底及位于衬底上的第一导电类型的外延层,在外延层的上部设有第二导电类型的阱区,在阱区间设有控制栅沟槽,控制栅沟槽底部设有分离栅沟槽,分离栅沟槽内填充有分离栅多晶硅以及包裹分离栅多...该专利属于捷捷微电(上海)科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过捷捷微电(上海)科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种半导体功率器件结构及其制造方法,第一导电类型的衬底及位于衬底上的第一导电类型的外延层,在外延层的上部设有第二导电类型的阱区,在阱区间设有控制栅沟槽,控制栅沟槽底部设有分离栅沟槽,分离栅沟槽内填充有分离栅多晶硅以及包裹分离栅多...