下载用于检测研磨工艺的终点的设备的技术资料

文档序号:24463320

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本发明提供一种用于检测研磨工艺的终点的设备,其包含连接器件、计时器以及控制器。连接器件连接到传感器,所述传感器周期性地感测包括至少两种类型的多个管芯的重建晶片的接口以产生厚度信号,所述厚度信号包括从重建晶片的绝缘层的表面到重建晶片的接口的厚...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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