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本发明涉及非易失性存储器技术领域，公开了一种Nor Flash仿真与验证系统，包括：仿真结构，用于接收外部发送的不同指令，以仿真Nor Flash；断言检查模块，用于对DUT内部信号翻转的检查，以验证所述仿真结构的仿真结果。断言检查模块与仿...
该专利属于深圳市芯天下技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市芯天下技术有限公司授权不得商用。

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