一种Nor Flash仿真与验证系统技术方案

技术编号:24331555 阅读:21 留言:0更新日期:2020-05-29 19:49
本发明专利技术涉及非易失性存储器技术领域,公开了一种Nor Flash仿真与验证系统,包括:仿真结构,用于接收外部发送的不同指令,以仿真Nor Flash;断言检查模块,用于对DUT内部信号翻转的检查,以验证所述仿真结构的仿真结果。断言检查模块与仿真结构信号连接,仿真结构用于接收外部发送的不同指令并进行仿真,通过断言检查模块对DUT内部信号翻转的检查,以验证所述仿真结构的仿真结果,进而实现了仿真与验证一体化,快速定位错误位置。

A NOR flash simulation and verification system

【技术实现步骤摘要】
一种NorFlash仿真与验证系统
本专利技术涉及非易失性存储器
,尤其涉及一种NorFlash仿真与验证系统。
技术介绍
随着电子信息技术的发展,电子可编程可擦除的非易失性存储器技术广泛应用于各种电子产品中。常见的种类为EEPROM和闪存,而NORFlash是目前市场上主要的非易失闪存技术。现有技术中,现有的NorFlash模型,一般仅为仿真模型,或者仅为验证模型。其中,仿真模型一般通过硬件描述语言(Verilog)描述,来模拟真实的NorFlash,通过接收外部发送的不同指令,完成相应的操作,实现NorFlash的基本功能。然而,上述的参考模型与验证模型,分别为两个单独的模型,过于繁琐,不够精简;另一方面验证模型一般只针对输出数据的正确与否,无法确保DUT内部信号翻转的正确性,因而无法及时的检测出一些潜在性的错误,并且无法准确快速的定位到错误位置。因此,如何提供一种NorFlash仿真与验证系统成为亟待解决的技术问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于如何提供一种NorFlash本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种Nor Flash仿真与验证系统,其特征在于,包括:/n仿真结构,用于接收外部发送的不同指令,以仿真Nor Flash;/n断言检查模块,用于对DUT内部信号翻转的检查,以验证所述仿真结构的仿真结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种NorFlash仿真与验证系统,其特征在于,包括:
仿真结构,用于接收外部发送的不同指令,以仿真NorFlash;
断言检查模块,用于对DUT内部信号翻转的检查,以验证所述仿真结构的仿真结果。


2.根据权利要求1所述的NorFlash仿真与验证系统,其特征在于,所述仿真结构包括:
信息解析模块,用于解析NorFlash的数据;
状态寄存器模块,与所述信息解析模块信号连接,用于配置NorFlash的内部状态并生成相应保护使能;
地址解析模块,其一端与所述信息解析模块信号连接,另一端与所述状态寄存器模块信号连接;
内存模块,分别与所述信息解析模块、所述地址解析模块信号连接;
其中,所述地址解析模块用于通过接收所述信息解析模块的信号,以计数形式确定地址信息,并解析出其Page地址与Byte地址,且提供给所述状态寄存器模块和内存模块使用。


3.根据权利要求1所述的NorFlash仿真与验证系统,其特征在于,所述信息解析模块包括:
输入信息解析模块,用于对输入的指令、地址及数据进行解析,并实现数据转换;
输出信息解析模块,与所述输入信息解析模块信号连接,用于根据不同使能按对应通道输出对应数据;
使能控制模块,与所述输入信息解析模块以及输出信息解析模块信息连接,用于对不同命令产生的相应使能进行控制。

【专利技术属性】
技术研发人员:孙甜张新展
申请(专利权)人:深圳市芯天下技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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