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本发明提供了一种存储器芯片的检测方法、装置和终端，所述方法包括：设置攻击模式和随机攻击参数；根据攻击模式和随机攻击参数生成随机攻击命令；根据随机攻击命令对存储器芯片进行攻击；对受到攻击后的存储器芯片进行检测，生成检测结果。能够根据需要模拟各...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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