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本公开涉及一种集成电路上电测试方法、集成电路上电测试装置、存储介质及电子设备。本公开实施例提供的集成电路上电测试方法包括：获取待测试集成电路的上电测试参数，并获取多种上电测试波形；利用所述上电测试参数为所述多种上电测试波形进行参数赋值以得到...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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