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本实用新型涉及半导体测试技术领域，公开了一种用于半导体硅片的练选测试装置，所述第一固定板的上表面开设有定位槽，且第一固定板的上表面靠近定位槽的一侧设置有放置板，所述定位槽的内部嵌入安装有定位杆，所述第一固定板的一侧固定安装有清洁组件，且第一...
该专利属于复汉海志(江苏)科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过复汉海志(江苏)科技有限公司授权不得商用。

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