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本发明公开了一种集成电路晶圆测试数据自动判断系统，系统包括产品登记模块、内控运算模块、实时数据分析模块、数据推送模块、人工解锁模块；本发明提供的一种集成电路晶圆测试数据自动判断系统，晶圆数据自动判断系统只需要工程师将需要分析的产品录入到系统...
该专利属于上海华岭集成电路技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华岭集成电路技术股份有限公司授权不得商用。

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