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半导体结构及其形成方法技术
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文档序号:24174315
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本发明实施例提供了一种半导体结构及其形成方法,其中,半导体结构的形成方法包括:在衬底上形成停止层;在所述停止层上形成初始牺牲层;对所述初始牺牲层进行掺杂处理,形成掺杂牺牲层;形成堆叠结构;所述堆叠结构位于所述掺杂牺牲层上;形成多个沟道结构,...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
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