专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
长江存储科技有限责任公司
>
检测阶梯结构偏移的方法及芯片技术
>技术资料下载
下载检测阶梯结构偏移的方法及芯片的技术资料
文档序号:24174203
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开一种检测阶梯结构偏移的方法,包含:在衬底的第一侧形成第一凹槽;形成堆叠层于衬底上,其中堆叠层包含交错叠置的多个第一绝缘层和多个第二绝缘层;通过多次修整‑蚀刻工艺使堆叠层形成阶梯结构,其包含最靠近衬底的第一台阶;测量第一凹槽与第一台...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。