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存储器的制作方法及存储器技术
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文档序号:24174186
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本公开实施例公开了一种存储器的制作方法及存储器,所述方法包括:在第一衬底上形成具有第一晶相结构的第一阻挡层;形成覆盖所述第一阻挡层的第一导电层;其中,所述第一导电层具有第二晶相结构,具有所述第二晶相结构的所述第一导电层与具有所述第一晶相结构...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
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