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量测参数确定和量测配方选择组成比例
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文档序号:23774554
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一种方法,该方法包括:对于使用图案化工艺创建的具有偏置的第一目标结构和不同偏置的第二目标结构的量测目标,获得包括用于第一目标结构的信号数据与用于第二目标结构的信号数据之间关系的量测数据,该量测数据是针对多个不同量测配方获得的,并且每个量测配...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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