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文档序号:23774548
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一种方法包括:针对使用图案化过程产生的衬底的器件图案的多个特征中的每个特定特征,获得在所述衬底的测量目标与所述特定特征之间的所述图案化过程的参数的模型化或模拟关系;和基于所述关系和来自量测目标的所述参数的测量值,产生针对所述特征中的每个特征...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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