专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
浜松光子学株式会社
>
半导体制造方法及晶圆检查方法技术
>技术资料下载
下载半导体制造方法及晶圆检查方法的技术资料
文档序号:23564030
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种可对应于集成电路的高密度化的半导体制造方法。本发明的一方式所涉及的半导体制造方法具备如下工序:与具有多个芯片形成区域的晶圆的各芯片形成区域对应而形成:记忆胞;光电二极管,其输出对应于所输入的光信号的电信号;及信号处理电路,其基...
该专利属于浜松光子学株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过浜松光子学株式会社授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。