下载基于注意力机制强化学习的半导体晶片测试路径规划方法的技术资料

文档序号:23399103

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本发明公开了一种基于注意力机制强化学习的半导体晶片测试路径规划方法,用于解决现有半导体晶片测试路径规划方法通用性差的技术问题。技术方案是采用软性注意力机制(Soft Attention Mechanism)的深度强化学习模型架构来训练代理人...
该专利属于西北工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过西北工业大学授权不得商用。

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