温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本公开涉及TALBOT‑LAU X射线源和干涉测量系统。提供了一种x射线源，以及采用该x射线源的x射线干涉测量系统。x射线源包括靶，所述靶包括衬底和多个结构。衬底包括导热的第一材料和第一表面。多个结构位于第一表面的至少一部分上或嵌入在第一表...
该专利属于斯格瑞公司所有，仅供学习研究参考，未经过斯格瑞公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。