下载半导体封装件和方法的技术资料

文档序号:23346883

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

在实施例中,一种方法包括:在管芯上方形成第一介电层,第一介电层包括光敏材料;固化第一介电层以降低第一介电层的光敏性;通过蚀刻图案化第一介电层以形成第一开口;在第一介电层的第一开口中形成第一金属化图案;在第一金属化图案和第一介电层上方形成第二...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。