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本发明公开了一种NAND Flash时序测试方法，步骤包括：获取NAND Flash中所有存储数据；对此NAND Flash进行读操作，并移动采样脉冲位置，对读取数据进行采集，获得若干采集数据；将存储数据与采集数据进行比较，并将Page中每...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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