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本发明涉及半导体装置的形成方法。本发明提供的方法施加保护层于栅极堆叠的一部分上，接着移除保护层。沉积保护层之后，将等离子体前驱物分离成多个组成。接着采用中性自由基移除保护层。在一些实施例中，移除步骤亦形成保护性的副产物，其有助于保护下方的层...
该专利属于台湾积体电路制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台湾积体电路制造股份有限公司授权不得商用。

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