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本申请公开了一种集成电路测试系统及测试方法。所述集成电路测试系统，包括：探针卡，用于与待测目标相连；图形信号产生模块，与探针卡相连，用于产生测试信号；人机交互模块，与图形信号产生模块相连；其中，图形信号产生模块包括单片机和FPGA单元，通过...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。

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