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本发明提供测距装置。测距装置具备光学系统异常度检测部，该光学系统异常度检测部通过测距值d及光强度Ls的关系与基准值K...
该专利属于发那科株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过发那科株式会社授权不得商用。

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