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本发明涉及漏电检测技术领域，公开了一种可控硅故障自测试方法、电路、连接器及电器设备。本发明技术方案通过可控硅测试控制模块接收半波整流电路的交流同步信号，判断所述交流同步信号的交流幅值小于零时，开始对可控硅进行检测；在第一预设时间内输出开启信...
该专利属于深圳市晶扬电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市晶扬电子有限公司授权不得商用。

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