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本发明提供一种晶圆级自动测试系统，包括：测试机和探针台；探针台用于承载待测晶圆；显示界面；晶圆选择工具，用于读取并选择待测晶圆并产生晶圆选择信息；自定义文本，用于定义目标芯片位置；设于显示界面的文本接口，用于导入自定义文本；设于测试机内的测...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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