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一种用于集成电路测试设备的电触头，电触头具有细长导电接触引脚，细长导电接触引脚具有在接触引脚的内端处向上的接触尖端以及允许接触引脚在测试期间从一侧到另一侧摆动和滑动的弯曲底表面。一种具有“P”形横截面的细长可压缩构件，包括：“垂直部分”，其...
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