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本申请公开了一种半导体装置和包括该半导体装置的测试系统。一种半导体装置，包括：焊盘单元，其包括多个数据输入/输出(I/O)焊盘和多个错误检测码焊盘；错误检测码(EDC)读取路径，其被配置为通过对多个数据执行错误检测操作来产生多个EDC，并且...
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