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本实用新型涉及电学测试设备领域，旨在解决现有的IC测试座体积变小，IC测试座上的手扣力臂变短，导致压合力变大的问题，提供IC测试座，其包括上接触器组件、上盖、下接触器组件和底座；扣合组件包括上手扣、下手扣和第一弹簧，上手扣包括按压板和竖向设...
该专利属于深圳文治电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳文治电子有限公司授权不得商用。

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