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本发明公开了一种高密度柔性IC基板外观缺陷检测方法，包括采集高密度柔性IC基板各部分的高分辨率数字图像；将采集的多张IC基板的高分辨率数字图像拼接成一张完整的柔性IC基板图像；对拼接成完整的柔性IC基板图像进行外观缺陷检测，得到柔性IC基板...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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