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一种利用反射谱精细度测量光波导损耗的系统技术方案
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下载一种利用反射谱精细度测量光波导损耗的系统的技术资料
文档序号:22175051
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本发明公开了一种利用反射谱精细度测量光波导损耗的系统,测量系统包括:一可调谐激光器,用于产生波长可调谐的激光;一光路环形装置,将可调谐激光器输出的光信号导入耦合装置并将耦合装置所收集的反射光导入光电探测器;一耦合装置,用于实现环形装置和待测...
该专利属于中国科学院半导体研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院半导体研究所授权不得商用。
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