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一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置及方法制造方法及图纸
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下载一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置及方法的技术资料
文档序号:22133787
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本发明公开一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置及方法,包括往复运动组件以及上下布置的制热组件和制冷组件,制热组件包括防护罩,防护罩内壁设有用于安装线圈的容置槽,轴向设有容往复运动组件穿过的通孔;制冷组件包括箱体,箱体上表面与通孔对应的位置...
该专利属于重庆理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过重庆理工大学授权不得商用。
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