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本发明属于系统级封装器件中的可靠性计算领域，具体涉及一种面向系统级封装SIP器件的可靠性分析系统及方法。本发明通过使用真实试验数据对有限元仿真数据进行不断对比、验证和修正。通过真实的实验数据支持仿真系统的模拟抽样，数据更加接近标准值。本发明...
该专利属于哈尔滨工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工程大学授权不得商用。

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