专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
长鑫存储技术有限公司
>
半导体器件制造技术
>技术资料下载
下载半导体器件的技术资料
文档序号:21640420
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
提供一种半导体器件包括形成在基底上的沟槽,和填充在所述沟槽中、从所述沟槽底部向外依次设置的第一电介质层、第二电介质层;其中,所述第一电介质层在沟槽中的高度为以所述沟槽底部为基准、所述沟槽深度的1/7至1/3处,所述第二电介质层在沟槽中的高度...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。