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本实用新型涉一种芯粒测试装置，用于测量芯粒的光、电性能参数，其至少包括机架、放置芯粒的具有导电功能的导电板、积分球收光器和CCD扫描仪、第一寻边器和第二寻边器、显示器和光纤，所述第一寻边器中设置有用于直接接触电极的探针，所述第二寻边器中探针...
该专利属于安徽三安光电有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽三安光电有限公司授权不得商用。

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