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本发明公开了一种半导体器件和包括所述半导体器件的系统，其涉及在半导体器件的探针测试期间检测有缺陷或失效部分的技术。所述半导体器件包括测试控制器，该测试控制器被配置为在测试信号的激活期间执行读取标志信号的计数，以及控制数据掩蔽信号在读取标志信...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。

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