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形成硅氧化膜的方法及装置制造方法及图纸
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文档序号:21063171
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本发明提供形成硅氧化膜的方法及装置。在硅氧化膜及硅氮化膜露出的被处理面上形成薄且均匀的膜厚的硅氧化膜。在硅氧化膜和硅氮化膜露出的被处理面形成硅氧化膜的方法具有:第1工序:形成在减压下的处理容器内配置有被处理体的状态,所述被处理体具有硅氧化膜...
该专利属于东京毅力科创株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过东京毅力科创株式会社授权不得商用。
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