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CMOS光学传感器的深槽隔离结构及形成方法技术
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文档序号:21037761
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本发明公开了一种CMOS光学传感器的深槽隔离结构,包含:提供一半导体基底,所述基底中形成有光电二极管;所述的深槽隔离结构位于半导体基底中,形成一个个深槽构成阵列,所述光电二极管均位于深槽隔离的下方,每个深槽隔离形成一个像素子单元;深槽隔离的...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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