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电容器阵列及半导体器件制造技术
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文档序号:21034195
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本实用新型提供了一种电容器阵列及半导体器件,在基底器件区上形成下电极、支撑层及上电极后,通过在上电极上形成一氧化层,以在器件区边缘形成一平坦的电容阵列边界,并在电容阵列边界增加保护层,有效规避了后续沉积填充材料时由于电容阵列边界不平整而形成...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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