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硅通孔检测电路和集成电路芯片制造技术
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文档序号:20930722
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本实用新型公开了一种硅通孔检测电路和集成电路芯片,涉及集成电路技术领域。该硅通孔检测电路包括第一硅通孔、第二硅通孔和鉴相器;第一硅通孔的第一端与预定信号输出端连接,第一硅通孔的第二端与第二硅通孔的第一端连接;第二硅通孔的第二端与鉴相器的第一...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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