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膜厚测量装置、基板检查装置、膜厚测量方法以及基板检查方法制造方法及图纸
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文档序号:20910582
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通过使基板以横切线传感器的拍摄区域的方式移动,生成基板上的膜的图像数据,基于生成的图像数据测量膜的各部分的厚度。在测量该膜的厚度时,使用校正信息校正图像数据,使得不包含取决于在与线传感器正交的方向上的位置的变化量。基于第一线状数据与第二线状...
该专利属于株式会社斯库林集团所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社斯库林集团授权不得商用。
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