专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
上海华力微电子有限公司
>
半导体器件的形成方法技术
>技术资料下载
下载半导体器件的形成方法的技术资料
文档序号:20551116
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种半导体器件的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底上具有第一器件区域和第二器件区域,所述第一器件区域和第二器件区域分别具有栅极结构;形成覆盖所述半导体衬底表面和栅极结构的遮蔽层;形成掩膜层,所述掩膜层覆盖所述第一器件区域的遮蔽层...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。