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一种半导体器件及其制造方法技术
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文档序号:20285955
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本发明提供一种半导体器件及其制造方法,通过多次离子注入来形成源漏区,在每次离子注入时,通过修剪光阻层,使得光阻层中的图案沿着栅长方向向两侧扩充,使得后一次注入的横向范围扩大,而较前一次离子注入,本次离子注入中的注入能量增大且剂量减小。这样,...
该专利属于长江存储科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过长江存储科技有限责任公司授权不得商用。
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