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本实用新型公开了一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，包括：检测块，检测块伸入螺钉孔内以检测螺钉孔的深度，检测块形成为柱状，检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，手柄与检测块的轴向一端连接。根据本实用新型的用于检测电子设备外观螺钉孔深...
该专利属于OPPO(重庆)智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过OPPO(重庆)智能科技有限公司授权不得商用。

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