用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，包括：检测块，检测块伸入螺钉孔内以检测螺钉孔的深度，检测块形成为柱状，检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，手柄与检测块的轴向一端连接。根据本实用新型专利技术的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，在对电子设备的螺钉孔进行检测时，若发现检测块的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具
本技术涉及检测治具
，尤其是涉及一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具。
技术介绍
电子设备的电池盖上设置有与上盖配合的螺钉孔，由于螺纹孔的尺寸较小，加工时容易出现螺纹孔的深度尺寸过小或者过大。相关技术中，用高度规对螺纹孔的深度进行检测，但每次检测时均需要将高度规进行归零，且检测出的数据还需要和标准尺寸进行对比，给操作人员带来了较大的工作量，且检测效率较低。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，所述用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具具有检测效率高的优点。根据本技术实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，包括：检测块，所述检测块伸入所述螺钉孔内以检测所述螺钉孔的深度，所述检测块形成为柱状，所述检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，所述手柄与所述检测块的轴向一端连接。根据本技术实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，通过设置检测块和手柄，在对电子设备的螺钉孔进行检测时，操作人员可以手持检测治具的手柄，将检测治具的检测块伸入螺钉孔中，并观察检测块的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面是否平齐，若发现检测块的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。根据本技术的一些实施例，所述检测块轴向两端的端面均与所述检测块的轴线垂直。在本技术的一些实施例中，所述检测块形成为圆柱状。进一步地，所述检测块的直径为D，所述D满足：1.67mm≤D≤1.73mm。进一步地，所述D满足：D＝1.7mm。根据本技术的一些实施例，所述检测块的远离所述手柄的一端的端面的外周缘处设有导向斜面，在所述检测块的内侧至外侧的方向上，所述导向斜面朝向靠近所述手柄的方向倾斜。根据本技术的一些实施例，所述手柄包括：连接部，所述连接部的一端与所述检测块的轴向一端连接；握持部，所述握持部与所述连接部的另一端连接。进一步地，所述连接部沿直线延伸。进一步地，所述握持部沿直线延伸。进一步地，所述连接部与所述握持部的横截面的形状和尺寸相同。在本技术的一些实施例中，所述握持部形成为平板状。在本技术的一些实施例中，所述握持部形成为环状。根据本技术的一些实施例，所述检测块的靠近所述手柄的一端与所述手柄远离所述检测块的一端之间的距离为L，所述L满足：3cm≤L≤7cm。进一步地，所述L满足：L＝4cm。根据本技术的一些实施例，所述检测块的轴向两端的端面之间的距离为H，所述H满足：0.6mm≤H≤0.7mm。进一步地，所述H满足：H＝0.65mm。根据本技术的一些实施例，所述手柄与所述检测块螺纹连接，所述手柄的与所述检测块连接的一端设有外螺纹，所述检测块上设有与所述外螺纹配合的螺纹孔。根据本技术的一些实施例，所述手柄与所述检测块一体成型。本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。附图说明本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本技术实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具的主视图；图2是根据本技术实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具的右视图；图3是根据本技术另一个实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具的结构示意图。附图标记：检测治具100，检测块1，手柄2，连接部21，握持部22。具体实施方式下面详细描述本技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本技术，而不能理解为对本技术的限制。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“左”、“右”、“轴向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。下面参考图1和图2描述根据本技术实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100。如图1和图2所示，用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100包括：检测块1和手柄2，检测块1伸入螺钉孔内以检测螺钉孔的深度，检测块1形成为柱状，检测块1的轴向两端(如图1所示的左端和右端)的端面平行，手柄2与检测块1的轴向一端连接。可以理解的是，检测时需要将检测块1移动至螺钉孔内，由于螺钉孔的尺寸较小，所以检测块1的尺寸也相对较小。通过设置与检测块1连接的手柄2，操作人员通过移动手柄2，便可以实现对检测块1的同步移动，进而可以提升操作的便捷性。操作人员在对电子设备的螺钉孔进行检测时，首先可以手持检测治具100的手柄2，通过移动手柄2，使得与手柄2连接的检测块1伸入螺钉孔内。随后可以观察检测块1的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面的位置关系。若发现检测块1的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块1的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。根据本技术实施例的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具100，通过设置检测块1和手柄2，在对电子设备的螺钉孔进行检测时，操作人员可以手持检测治具100的手柄2，将检测治具100的检测块1伸入螺钉孔中，并观察检测块1的靠近手柄的端面与螺钉孔的靠近手柄的端面是否平齐，若发现检测块1的靠近手柄的端面高于或者低于螺钉孔的靠近手柄的端面，则说明螺钉孔制造的不合格，若发现检测块1的靠近手柄的端面与于螺钉孔的靠近手柄的端面平齐，则说明螺钉孔制造合格。由此，可以降低操作人员检测的难度，减少操作人员的工作量，从而提升了检测的效率。根据本技术的一些实施例，如图1所示，检测块1轴向(如图1所示的左右方向)两端的端面均与检测块1的轴线垂直。由此，可以简化检测块1的结构，降低检测块1制造的难度，从而缩短检测块1制造的周期，提升检测块1制造的良品率。在本技术的一些实施例中，如图1和图2所示，检测块1形成为圆柱状。由此，圆柱状的检本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，包括：检测块，所述检测块伸入所述螺钉孔内以检测所述螺钉孔的深度，所述检测块形成为柱状，所述检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，所述手柄与所述检测块的轴向一端连接。

【技术特征摘要】
1.一种用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，包括：检测块，所述检测块伸入所述螺钉孔内以检测所述螺钉孔的深度，所述检测块形成为柱状，所述检测块的轴向两端的端面平行；及手柄，所述手柄与所述检测块的轴向一端连接。2.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块轴向两端的端面均与所述检测块的轴线垂直。3.根据权利要求2所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块形成为圆柱状。4.根据权利要求3所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块的直径为D，所述D满足：1.67mm≤D≤1.73mm。5.根据权利要求4所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述D满足：D＝1.7mm。6.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述检测块的远离所述手柄的一端的端面的外周缘处设有导向斜面，在所述检测块的内侧至外侧的方向上，所述导向斜面朝向靠近所述手柄的方向倾斜。7.根据权利要求1所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述手柄包括：连接部，所述连接部的一端与所述检测块的轴向一端连接；握持部，所述握持部与所述连接部的另一端连接。8.根据权利要求7所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深度的检测治具，其特征在于，所述连接部沿直线延伸。9.根据权利要求8所述的用于检测电子设备外观螺钉孔深...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭康，
申请(专利权)人：OPPO重庆智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：重庆,50