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本公开涉及一种边界测试电路、存储器及边界测试方法，本公开实施例中的边界测试电路包括多个边界寄存器电路，边界寄存器电路一端接收初始测试信号，其另一端向下一级边界寄存器电路传送初始测试信号；多个状态控制电路，状态控制电路的输入端接收边界寄存器电...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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