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用于EUV光刻术的隔膜制造技术
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下载用于EUV光刻术的隔膜的技术资料
文档序号:20022560
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公开了一种用于EUV光刻术的隔膜。在一种布置中,隔膜包括具有成以下顺序的层的叠层:第一覆盖层,包括第一金属的氧化物;包括化合物的基层,所述化合物包括第二金属和选自由Si、B、C和N组成的组的附加元素;和第二覆盖层,包括第三金属的氧化物,其中...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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