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本发明公开了一种成像系统，包括：显微电子计算机断层扫描(micro‑CT)子系统、样品加工子系统和扫描电子显微镜(SEM)和处理器；所述micro‑CT子系统包括：X射线源和X射线探测器，用于获取样品的三维图像；所述样品加工子系统包括：聚焦...
该专利属于聚束科技（北京）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过聚束科技（北京）有限公司授权不得商用。

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