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本发明提供一种半导体器件以及放大电路，其目的在于能够易于鉴别因电感中的布线间短路引起的不良。将第一电感(5a)、第二电感(5b)的多个电感形成于多个布线层，在多个布线层的每一层中，第一电感(5a)的金属层和第二电感(5b)的金属层各自从内周...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。

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