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半导体装置和测试半导体装置的方法制造方法及图纸
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文档序号:19933896
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本公开涉及半导体装置和测试半导体装置的方法。半导体装置包括总线、驱动总线的第一总线驱动器和第二总线驱动器以及控制第一总线驱动器和第二总线驱动器的控制电路。控制电路控制第一总线驱动器和第二总线驱动器,使得第一总线驱动器和第二总线驱动器向总线供...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。
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