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晶片缺陷检查及审查系统技术方案
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文档序号:19876961
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本发明揭示成像物镜及配备有此类成像物镜的检查系统。所述成像物镜可包含前物镜,所述前物镜经配置以产生受衍射限制的中间图像。所述成像物镜还可包含中继器,所述中继器经配置以接收由所述前物镜产生的所述中间图像。所述中继器可包含三个球面镜,所述球面镜...
该专利属于科磊股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过科磊股份有限公司授权不得商用。
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