专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
华南理工大学
>
一种多层PCB截面图像工艺参数提取方法技术
>技术资料下载
下载一种多层PCB截面图像工艺参数提取方法的技术资料
文档序号:19860286
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种多层PCB截面图像工艺参数提取方法,包括:获取PCB截面显微图像,经预处理后,提取铜路轮廓,对铜路轮廓进行角度仿射变换,使图像中铜路轮廓中长条方向旋转至水平位置,然后进行参数提取;参数提取包括步骤:针对某一个轮廓,提取该轮廓...
该专利属于华南理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过华南理工大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。