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本发明公开了一种继电器常开和常闭触点转接选通方法。该方法采用多个继电器串并联结合的连通方式。本发明的继电器常开和常闭触点转接选通方法解决了继电器常开和常闭触点转接选通可靠性的问题，对于常开触点不闭合失效模式，并联设计提高了设计可靠性；对于常...
该专利属于北京电子工程总体研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京电子工程总体研究所授权不得商用。

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